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升级版 ASTM D645 全自动测厚仪 测厚分辨率高达0.1微米

更新时间:2023-11-27 点击量:312

升级版 ASTM D645 全自动测厚仪 测厚分辨率高达0.1微米


一,用途

用于塑料薄膜量程范围内各种材料的JING确厚度测量的设备,采用机械式测量方法。

 

二,执行标准

GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)GB/T 451.3GB/T 6547ASTM D645ASMT D374ASTM D1777TAPPI T411ISO 4593ISO 534ISO 3034DIN 53105DIN 53353JIS K6250JIS K6328JIS K6783JIS Z1702BS 3983BS 4817ISO4648等测试标准。

 

三,技术特点

本测厚仪采用JINYOU质传感器,测厚分辨率高达0.1微米,选用YOU质传动元件,确保了试验结果的稳定性与准确性。大液晶屏显示,操作简便,配备微型打印机直接打印试验报告。另外具有USB接口,通过选购软件实现数据的YONG久性存储、查询、打印;软件功能强大。

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