升级版 ASTM D645 全自动测厚仪 测厚分辨率高达0.1微米

升级版 ASTM D645 全自动测厚仪 测厚分辨率高达0.1微米

一，用途

用于塑料薄膜量程范围内各种材料的JING确厚度测量的设备，采用机械式测量方法。

二，执行标准

GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817、ISO4648等测试标准。

三，技术特点

本测厚仪采用JIN口YOU质传感器，测厚分辨率高达0.1微米，选用YOU质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。另外具有USB接口，通过选购软件实现数据的YONG久性存储、查询、打印；软件功能强大。